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Metodo para analizar una muestra de gas y determinar la presencia de una impureza en la muestra, que incluye la combinacion de la muestra de gas con un gas portador, la separacion de la muestra de gas, y el analisis de la mezcla del gas portador y de la impureza por espectroscopia de emision

Un metodopara analizar una muestra de gas para la presencia de por lo menos una impureza al combinar una corriente de una muestra de gas con una corriente de un gas portador para proveer una corriente combinante de gas, dirigiendo la corrirente combinada de gas a traves de una columna la cual preferiblemente removera la muestra de gas de la corriente combinada para producir una corriente retenida de gas y analizara la corriente retenida de gas para la presencia de por lo menos una impureza

Palabras clave: muestra de gas combinar una corriente corriente combinada corriente retenida corriente muestra

Nombre del Inventor: Leonard Mark Malczewski

Representante:   VILLASECA

Solicitante: PRAXAIR TECHNOLOGY INC.

Tipo de Patente: Patente de Invención

Estatus:Sin Resolver

Registro

PaisNumeroFecha
ESTADOS UNIDOS DE AMERICA 09/552,734 19/04/2000

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Deposito en:Chile
Clasificación IPC:2001-04-18
G01N030/74
G01N021/62
G01N001/22
G01N001/00
Fecha de Publicacion:22/02/2002
Fecha de Solicitud:18/04/2001
ID:7150
Solicitud:00883-2001

Inventores:

Leonard Mark Malczewski

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