Mejoras a metodo y aparato para leer la imagen electrostatica latente formada sobre la superficie de una lamina o capa de material aislante

La presente invención se refiere a mejoras a método para leer la imágen electrostática latente formada sobre la superficie de una lámina o capa de material aislante en donde el material aislante tiene una superficie anterior y una superficie posterior; caracterizadas porque consiste en: proporcionar un semiconductor que tiene una superficie anterior y una superficie posterior; colocar el semiconductor lo suficientemente cerca del material aislante para inducir una capa de agotamiento, depleción o reducción en el semiconductor estando la capa de agotamiento relacionada con las cargas acumuladas sobre el material aislante; y detectar la magnitud y la localización de las cargas acumuladas en el semiconductor.