Aparato de evaluación de disco

La invención tiene como objetivo proporcionar un aparato de evaluación de disco capaz de realizar una evaluación de disco altamente confiable aún en un disco de grabación en el que se graba una información en alta densidad. La secuencia de valores muestreados leídos de amplitud limitada se obtiene limitando la secuencia de valores muestreados leídos a un valor límite de amplitud predeterminada, la secuencia de valores muestreados leídos de amplitud limitada obtenida al muestrear una señal leída de salida del disco de grabación sincronizada con una señal de reloj que tiene la misma frecuencia que la señal de reloj de canal. En donde una separación entre un valor de muestreo máximo y un valor de muestreo mínimo de la secuencia de valores muestreados leídos de amplitud limitada es equivalente a una distancia predeterminada de longitud de onda de alta frecuencia, el valor de muestreo máximo y el valor de muestreo mínimo se incrementan, con lo que se obtiene una secuencia de valores muestreados leídos intensificados en alta frecuencia en al región de alta de la misma. La secuencia de valores muestreados leídos intensificados en alta frecuencia se convierten a una señal leída intensificada en alta frecuencia analógica sincronizada por la señal de reloj que tiene la misma frecuencia que la señal de reloj de canal. Solamente se extraen componentes que tengan frecuencias iguales o menores que una frecuencia de interrupción predeterminada de la señal leída intensificada en alta frecuencia para obtener una señal leída de evaluación. La señal leída de evaluación se binariza con base en un valor de umbral predeterminado para obtener una señal binaria que se entrega como un valor de evaluación de disco.